GaNテクノロジー

急速充電器の研究開発

ハードウェアエンジニアのためのサバイバルガイド:急速充電器の研究開発で待ち受ける「致命的な」落とし穴とは?

電源アダプタの開発は、リファレンスデザインをコピーするだけで済むほど簡単だと思っていませんか?終わりのないEMCデバッグから、苛立たしいプロトコルの非互換性まで、急速充電器の研究開発に潜む「致命的な」落とし穴、そして実際のハードウェアエンジニアが研究室から量産への移行をいかに乗り越えるかを探ります。.

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USB-C充電ブリック

USB-C充電ブリックのEVTテスト:GaNが高速で安全な電力供給を実現する仕組み

USB-C充電ブリックが量産段階に入る前に、EVTテスト(エンジニアリング検証テスト)に合格する必要があります。EVTテストは、性能、安全性、熱制御を検証するテストです。GaN急速充電技術とマルチポートPD設計が、現代の電源アダプターをより効率的で持ち運びに便利なものにしている理由をご覧ください。

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